UJI XRD DAN XRF PADA BAHAN MENERAL (BATUAN DAN PASIR) SEBAGAI SUMBER MATERIAL CERDAS (CaCO3 DAN SiO2)
DOI:
https://doi.org/10.26740/jpfa.v2n1.p20-29Keywords:
Material Oksida, SiO2, CaCO3, bahan alam, XRD, XRFAbstract
Indonesia adalah negara dengan potensi alam yang melimpah, khususnya bahan tambang (mineral), diantaranya material-material dengan kandungan oksida yang mempunyai prospek aplikasi sebagai material cerdas (misalnya SiO2, CaCO3, Al2O3,TiO2, dsb). Tujuan dari penelitian ini adalah mencari atau mengidentifikasi kandungan unsur oksida didalam bahan alam jenis batuan atau pasir kuarsa dengan kemurnian tinggi (> 50%), khususnya sebagai sumber oksida SiO2 (silica) dan CaCO3 (calsite). Selanjutnya bahan-bahan tersebut akan diproses dengan milling proses serbuk (ukuran mikron) untuk, peningkatan kemurnian tinggi dan pengecilan ukuran pada orde nanometer. Identifikasi awal adalah melakukan uji difraksi Sinar-X (XRD) dan analisisnya (kualitatif) serta uji flouresensi sinar-X (XRF). Telah dilakukan uji XRD dan XRF pada sampel batuan yang diambil dari daerah Tulungagung, onik dari pulau Bawean-Gresik, dan pasir dari Tuban dan Sumenep. Hasil difraksi sinar X (XRD) bahan alam (batuan dan pasir) yang diambil sebagai sampel yang diambil dari beberapa daerah tersebut, diperoleh bahwa Batu_1(onik) dan Batu_2(putih) menunjukan bahwa sampel tersebut mempunyai fase dominan struktur kristal Calsite (CaCO3), dan untuk pasir dari Tuban dan Sumenep mempunyai fase dominan quartz (SiO2), demikian. Dan hasil XRF menunjukan kandungan CaCO3 pada sampel batuan (onik) cukup tinggi (98,23%), dan untuk sampel pasir (Tuban dan Sumenep) menunjukan kandungan oksida quartz (SiO2) dengan kemurnian yang tinggi (65,9 -76,8 %), dengan impuritas terbanyak CaO dan Fe2O3 (20-28%).
References
Cullity, B.D, 1956. Element of X-Ray Diffraction. Addison-Wesley Publishing Company, Inc.
Dinas ESDM Propinsi Jawa Timur., 2010.,Potensi Tambang di Jawa Timur. www.pertambangan-jatim.or.id. (akses September 2010). East Java, Peta Potensi Jawa Timur., www.eastjava.com (akses Maret 2012)
Fansuri,H., 2010., Modul Pelatihan Operasional XRF. Laboratorium Energi dan Rekayasa. LPPM ITS.
Hartono, B., dkk. 2009. Karakteristik Pola Difraksi Sinar-X Dua Moda Ukuran nanokristal Periklas. Jurnal Nanosains & Nanoteknologi. Edisi khusus, Agustus 2009.
Karlsruhe, F.I.Z and Gmelin.1999. Inorganic Crystal Structure Database (ICSD). Institute Germany.
Katili. J. A. DR.2007. Geologi. Dep. Urusan Research Nasional. Jakarta.
Pratapa, Suminar.2008. Pengaruh Jangkauan Sudut Ukur Pada Hasil Analisis Data Difraksi Sinar-X Menggunakan Metode Rietveld : kasus campuran MgO-Y2O3. Makara, Sains, Vol 12, No 2, Nopember 2008 : 146-150.
Pratapa,S. 2010. Whorkshop Difraksi Sinar-X. Pusat Penelitian Ilmu Bahan dan Ilmu-Ilmu Dasar, LP ITS Surabaya, Indonesia.
Rahman, NT.2007. Indonesia Potensial Menjadi Pemasok Material Nano. Antara News: Indonesia One Clik Away. Indonesia.
Downloads
Published
How to Cite
Issue
Section
License
Author(s) who wish to publish with this journal should agree to the following terms:
- Author(s) retain copyright and grant the journal right of first publication with the work simultaneously licensed under a Creative Commons Attribution-Non Commercial 4.0 License (CC BY-NC) that allows others to share the work with an acknowledgement of the work's authorship and initial publication in this journal for noncommercial purposes.
- Author(s) are able to enter into separate, additional contractual arrangements for the non-exclusive distribution of the journal's published version of the work (e.g., post it to an institutional repository or publish it in a book), with an acknowledgement of its initial publication in this journal.
The publisher publish and distribute the Article with the copyright notice to the JPFA with the article license CC-BY-NC 4.0.